UniSil®硅球间隔物,具有非常窄的粒径分布,能够控制盒厚,不会对基板造成损坏,清晰度更高。纳微科技的硅球品种很多,应用广泛。
产品特点
- 微球粒径非常均一,变异系数CV小于3.5%
- 微球单分散性好,无重叠或团聚
- 微球纯度高,无污染
- 微球机械强度高
- 微球具有优异的耐热性、耐寒性以及耐化学品性
UniSil®硅球间隔物的扫描电镜图
UniSil®硅球间隔物粒径非常均一
UniSil®硅球的颗粒大小和分布是用公认的测试仪器(Beckman Coulter Counter Multisizer)和方法来确定的。为了确保结果的准确性,每次测量之前都用NIST可溯源标准颗粒来校正。UniSil硅球粒径分布图说明纳微生产的UniSil硅球无论大小都具有高度的均匀性。变异系数,Coefficient Value (CV)%=(standard deviation/average diameter)x100, 控制在2.5% 以下。
UniSil®硅球间隔物粒径分布图(微球的粒径是用NIST溯源的标准颗粒校正的Beckman Coulter Counter Multisizer 3精确测试)
UniSil®硅球纯度高,无污染
UniSil®硅球离子含量会直接影响到液晶的质量,因此我们在制备和清洗过程中都采用去离子水,产品定期抽样检查。
Substance |
Control Limit |
Test Method |
Fe |
≤ 2 ppm |
ICP Spectrometer |
Ca |
≤ 2 ppm |
|
K |
≤ 2 ppm |
|
Na |
≤ 2 ppm |
|
Cl |
≤ 1 ppm |
Ion Chromatography |
UniSil®硅球间隔物符合RoHS指令
UniSil®硅球间隔物在生产过程中不使用欧盟RoHS指令中所禁止的元素,不含RoHS 所禁止的有机物质及重金属,纳微每年更新一次RoHS检测报告。有需求的客户可以索要RoHS检测结果复印件。
Substance |
Test Result (N.D. = Not Detectable) |
Cd |
N.D. |
Pb |
N.D. |
Hg |
N.D. |
Cr6+ |
N.D. |
PBBs |
N.D. |
PBDEs |
N.D. |
UniSil®硅球间隔物产品目录
纳微科技提供两个系列UniSil硅球产品:Si和SiS。库存产品的粒径尺寸从1.5 µm到25 µm, 3 µm到9 µm每隔0.1 µm一个标尺。其中Si系列主要用于边框合厚的控制,SiS主要用于特殊要求的合内的合厚控制。
Copyright © 2019 苏州纳微 All rights reserved
Email:info@nanomicrotech.com 苏ICP备15038436号-2 网站建设:中企动力 苏州